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高低溫試驗箱就是在溫度的基礎(chǔ)上加濕熱系統(tǒng)，使做溫度的同時也可以做濕度測試，使試驗效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測樣品的可靠性更高。而且高低溫試驗箱在使用時要注意一些問題，遵守一定的操作規(guī)范。那么高低溫試驗箱的測試步驟是怎樣的呢？下面是高天試驗設(shè)備的分享：

　　高低溫試驗箱的測試步驟：

　　1.預(yù)處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　2.初始檢測：將被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖試驗箱內(nèi)即可。

　　3.開始試驗：

　　A、在樣品斷電的狀態(tài)下，試驗樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗箱內(nèi)，先將試驗箱（室）內(nèi)溫度下降到-50℃，保持4個小時；請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，這一步非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生 20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測試。

　　B、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到90℃的高溫試驗箱（室）內(nèi)，保持4h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行A、B測試步驟。

　　C、進(jìn)行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。

　　E、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。

　　F、重復(fù)上述實驗方法，以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。

　　G、恢復(fù)：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　H、后檢測：對照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評定。

　　如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。

　　以上關(guān)于高低溫試驗箱的測試步驟就為大家分享到這里，高低溫試驗箱是用于電工、bai電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫或低溫試驗，檢測其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時的適應(yīng)性;其測試方式主要還是要根據(jù)GB/T10592-2008的試驗標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。